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科研机构
半导体研究所 [7]
内容类型
期刊论文 [7]
发表日期
2006 [1]
2002 [1]
2000 [2]
1999 [1]
1994 [1]
1991 [1]
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学科主题
半导体材料 [7]
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共7条,第1-7条
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学科主题:半导体材料
内容类型:期刊论文
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Growth and characterization of semi-insulating GaN films grown by MOCVD
期刊论文
journal of rare earths, 2006, 卷号: 24, 期号: sp.iss.si, 页码: 14-18
Fang CB
;
Wang XL
;
Hu GX
;
Wang JX
;
Wang CM
;
Li JM
收藏
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浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/04/11
MOCVD
GaN
resistivity
TSC
N-TYPE GAN
DOPED GAN
SPECTROSCOPY
CARBON
FE
A novel application to quantum dot materials to the active region of superluminescent diodes
期刊论文
journal of crystal growth, 2002, 卷号: 243, 期号: 1, 页码: 25-29
作者:
Li CM
;
Xu B
;
Jin P
;
Ye XL
收藏
  |  
浏览/下载:33/0
  |  
提交时间:2010/08/12
atomic force microscopy
low dimensional structures
quantum dots
strain
molecular beam epitaxy
superluminescent diodes
1.3 MU-M
HIGH-POWER
INTEGRATED ABSORBER
INAS ISLANDS
SPECTRUM
WINDOW
LAYER
SIZE
Microstructures of microcrystalline silicon thin films prepared by hot wire chemical vapor deposition
期刊论文
thin solid films, 2000, 卷号: 360, 期号: 1-2, 页码: 205-212
Zhu M
;
Guo X
;
Chen G
;
Han H
;
He M
;
Sun K
收藏
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浏览/下载:104/0
  |  
提交时间:2010/08/12
microstructures
microcrystalline silicon
hot wire chemical vapor deposition
AMORPHOUS-SILICON
HYDROGEN
PLASMA
SPECTRA
GROWTH
SILANE
Temperature dependence of electron redistribution in modulation-doped InAs/GaAs quantum dots
期刊论文
journal of crystal growth, 2000, 卷号: 219, 期号: 3, 页码: 199-204
作者:
Xu B
;
Ye XL
收藏
  |  
浏览/下载:59/0
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提交时间:2010/08/12
quantum dots
InAs/GaAs
MBE
photoluminescence
absorption
OPTICAL-PROPERTIES
PHOTOLUMINESCENCE
SPECTROSCOPY
INGAAS
LASER
TEM study of dislocations in ZnTe/GaAs heterostructure grown by hot-wall epitaxy
期刊论文
defect and diffusion forum, 1999, 卷号: 174, 期号: 0, 页码: 59-65
作者:
Han PD
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2010/08/12
HREM
large-angle stereo-projection
misfit dislocations
stacking faults
TEM
LAYER
SUPERLATTICES
ELECTRON-MICROSCOPY
INVESTIGATION OF POROUS SILICON BY SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY AND ATOMIC-FORCE MICROSCOPY
期刊论文
journal of vacuum science & technology b, 1994, 卷号: 12, 期号: 4, 页码: 2437-2439
YU T
;
LAIHO R
;
HEIKKILA L
收藏
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浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2010/11/15
PHOTOLUMINESCENCE
SPECTROSCOPY
WAFERS
TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY STUDY OF N+-IMPLANTED SILICON ON INSULATOR BY ENERGY-FILTERED IMAGING
期刊论文
journal of applied physics, 1991, 卷号: 70, 期号: 3, 页码: 1850-1852
DUAN XF
;
DU AY
;
CHU YM
收藏
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浏览/下载:15/0
  |  
提交时间:2010/11/15
ON-INSULATOR
NITROGEN
SPECTROSCOPY
LAYERS
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