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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2008 [1]
2006 [1]
1996 [2]
学科主题
半导体器件 [4]
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学科主题:半导体器件
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Low-Temperature Growth of ZnO Films on GaAs by Metal Organic Chemical Vapor Deposition
期刊论文
半导体学报, 2008, 卷号: 29, 期号: 1, 页码: 12-16
Shi Huiling
;
Ma Xiaoyu
;
Hu Like
;
Chong Feng
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浏览/下载:128/23
  |  
提交时间:2010/11/23
Development of current-based microscopic defect analysis method using optical filling techniques for the defect study on heavily irradiated high-resistivity Si sensors/detectors
会议论文
11th conference on defects recognition imaging and physics in semiconductors, beijing, peoples r china, sep 13-19, 2005
Li, Z (Li, Z.)
;
Li, CJ (Li, C. J.)
收藏
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浏览/下载:305/15
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提交时间:2010/03/29
DLTS
Investigation on the N-eff reverse annealing effect using TSC/I-DLTS: Relationship between neutron induced microscopic defects and silicon detector electrical degradations
期刊论文
nuclear instruments & methods in physics research section a-accelerators spectrometers detectors and associated equipment, 1996, 卷号: 377, 期号: 0, 页码: 265-275
Li Z
;
Li CJ
;
Eremin V
;
Verbitskaya E
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2010/11/17
RADIATION-DAMAGE
RESISTIVITY
Microscopic analysis of defects in a high resistivity silicon detector irradiated to 1.7x10(15)n/cm(2)
期刊论文
ieee transactions on nuclear science, 1996, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 1590-1598
Li Z
;
Ghislotti G
;
Kraner HW
;
Li CJ
;
Nielsen B
;
Feick H
;
Lindstroem G
收藏
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浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2010/11/17
RADIATION-DAMAGE
JUNCTION
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