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一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法 专利
专利号: CN202011109442.1, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-03-12
作者:  陈铁桥;  李思远;  李海巍;  王爽;  刘学斌
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