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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 发表日期：2020     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Flexoelectricity-induced retention failure in ferroelectric films 期刊论文 ACTA MATERIALIA, 2020, 卷号: 196, 页码: 61-68 作者:  Zou, M. J.;  Tang, Y. L.;  Zhu, Y. L.;  Wang, Y. J.;  Feng, Y. P. 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2021/02/02 Ferroelectrics  Flexoelectricity  Retention failure  Strain gradient   Flexoelectricity-induced retention failure in ferroelectric films 期刊论文 ACTA MATERIALIA, 2020, 卷号: 196, 页码: 61-68 作者:  Zou, M. J.;  Tang, Y. L.;  Zhu, Y. L.;  Wang, Y. J.;  Feng, Y. P. 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2021/02/02 Ferroelectrics  Flexoelectricity  Retention failure  Strain gradient   Flexoelectricity-induced retention failure in ferroelectric films 会议论文 作者:  Zou, M.J.;  Tang, Y.L.;  Zhu, Y.L.;  Wang, Y.J.;  Feng, Y.P. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2020/12/18 Atoms  Ferroelectricity  High resolution transmission electron microscopy  Polarization  Scanning electron microscopy  StrainAntiphase domains  Experimental evidence  Ferroelectric domains  Ferroelectric memory  Piezoelectric force microscopy  Reciprocal space mapping  Retention properties  Scanning transmission electron microscopy   Flexoelectricity-induced retention failure in ferroelectric films 期刊论文 Acta Materialia, 2020, 卷号: 196, 页码: 61-68 作者:  Zou, M.J.;  Tang, Y.L.;  Zhu, Y.L.;  Wang, Y.J.;  Feng, Y.P. 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2020/11/14 Atoms  Ferroelectricity  High resolution transmission electron microscopy  Polarization  Scanning electron microscopy  Strain  Antiphase domains  Experimental evidence  Ferroelectric domains  Ferroelectric memory  Piezoelectric force microscopy  Reciprocal space mapping  Retention properties  Scanning transmission electron microscopy   High-Resolution X-Ray Diffraction Analysis of Epitaxial Films 期刊论文 ACTA METALLURGICA SINICA, 2020, 卷号: 56, 期号: 1, 页码: 99-111 作者:  Li Changji;  Zou Minjie;  Zhang Lei;  Wang Yuanming;  Wang Sucheng 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2021/02/02 film growth  epitaxial film  high-resolution X-ray diffraction  reciprocal space mapping