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一种用于X光机图像解析度测试体定检的方法及系统 专利
专利号: 2018116297656, 申请日期: 2020-11-20,
作者:  徐卉;  张丽君;  杨雪琴;  邵枭虎;  石宇
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纳米聚焦系统高空间分辨控制方法研究 学位论文
: 中国科学院大学(中国科学院上海应用物理研究所), 2020
作者:  兰旭颖
收藏  |  浏览/下载:49/0  |  提交时间:2020/12/07
射频离子微推力器性能优化及点火特性研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2020
作者:  马隆飞
收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2020/05/29


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