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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2020    专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An investigation of FinFET single-event latch-up characteristic and mitigation method 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 页码: 8 作者:  Li, Dongqing;  Liu, Tianqi;  Wu, Zhenyu;  Cai, Chang;  Zhao, Peixiong 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2021/12/13 TCAD  FinFET  SCR  SEL   Heavy ion track straggling effect in single event effect numerical simulation of 3D stacked devices 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 页码: 10 作者:  Liu, T. Q.;  Li, D. Q.;  Cai, C.;  Zhao, P. X.;  Shen, C. 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2021/12/13