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近代物理研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2020 [4]
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发表日期:2020
专题:近代物理研究所
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Influence of Orbital Parameters on SEU Rate of Low-Energy Proton in Nano-SRAM Device
期刊论文
SYMMETRY-BASEL, 2020, 卷号: 12, 期号: 12, 页码: 10
作者:
Ye, Bing
;
Mo, Li-Hua
;
Liu, Tao
;
Sun, You-Mei
;
Liu, Jie
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2021/12/13
SRAM
single-event upset
on-orbit error rate
low-energy proton
Investigation of single event effect in 28-nm system-on-chip with multi patterns*
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2020, 卷号: 29, 期号: 10, 页码: 5
作者:
Yang, Wei-Tao
;
Li, Yong-Hong
;
Guo, Ya-Xin
;
Zhao, Hao-Yu
;
Li, Yang
收藏
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2021/12/15
system-on-chip
heavy ion
single event effect
Evaluation Method of Heavy-Ion-Induced Single-Event Upset in 3D-Stacked SRAMs
期刊论文
ELECTRONICS, 2020, 卷号: 9, 期号: 8, 页码: 14
作者:
Zhao, Peixiong
;
Liu, Tianqi
;
Cai, Chang
;
He, Ze
;
Li, Dongqing
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2021/12/15
Monte-Carlo simulation
single-event upset
test standard
three-dimensional integrated circuits
ultrahigh-energy heavy ion
Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 1, 页码: 374-381
作者:
Cai, Chang
;
Liu, Tianqi
;
Zhao, Peixiong
;
Fan, Xue
;
Huang, Hongyang
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2022/01/19
D filp-flops (DFFs)
heavy ions
radiation hardening
single-event upsets (SEUs)
ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon on insulator (UTBB FDSOI)
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