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近代物理研究所 [2]
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期刊论文 [2]
发表日期
2020 [2]
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发表日期:2020
专题:近代物理研究所
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Single-event induced failure mode of PWM in DC/DC converter
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 页码: 6
作者:
Gao, J.
;
Li, C.
;
Li, B.
;
Li, B.
;
Zhao, F.
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提交时间:2021/12/13
Method for obtaining junction temperature of power semiconductor devices combining computational fluid dynamics and thermal network
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2020, 卷号: 976, 页码: 10
作者:
Peng, Lisha
;
Shen, Wanzeng
;
Feng, Anhui
;
Liu, Yan
;
Gao, Daqing
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2021/12/09
IGBT module
Junction temperature
Thermal network
CFD simulation
Cold plate
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