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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2019     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy-ion and pulsed-laser single event effects in 130-nm CMOS-based thin/thick gate oxide anti-fuse PROMs 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2019, 卷号: 30, 期号: 5, 页码: 11 作者:  Zhao, Pei-Xiong;  Geng, Chao;  Zhang, Zhan-Gang;  Liu, Jie;  Li, Xiao-Yuan 收藏  |  浏览/下载：60/0  |  提交时间：2019/11/10 Anti-fuse PROM  Single event effects  Heavy ions  Pulsed laser  Space error rate   A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2019, 卷号: Vol.66 No.2, 页码: 287-291 作者:  Aibin Yan;  Kang Yang;  Zhengfeng Huang;  Jiliang Zhang;  Jie Cui 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2019/12/13 Latches  Radiation hardening (electronics)  Clocks  Feedback loop  Power dissipation  Reliability  Electronic mail  Circuit reliability  radiation hardening  soft error  double-node upset  single node upset