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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2019     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Latent Reliability Degradation of Ultrathin Amorphous HfO2 Dielectric After Heavy Ion Irradiation: The Impact of Nano-Crystallization 期刊论文 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2019, 卷号: 40, 期号: 10, 页码: 1634-1637 作者:  Li, Zongzhen;  Liu, Jie;  Zhai, Pengfei;  Liu, Tianqi;  Bi, Jinshun 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2022/01/19 HfO2  heavy ion irradiation  reliability degradation  crystallization   A Feature Set for Structural Characterization of Sphere Gaps and the Breakdown Voltage Prediction by PSO-Optimized Support Vector Classifier 期刊论文 IEEE Access, 2019, 卷号: 7 作者:  Qiu, Zhibin;  Wang, Xuezong 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/05 A Feature Set for Structural Characterization of Sphere Gaps and the Breakdown Voltage Prediction by PSO-Optimized Support Vector Classifier 期刊论文 IEEE ACCESS, 2019, 卷号: 7 作者:  Qiu, Zhibin;  Wang, Xuezong 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/12/05 Breakdown voltage prediction  sphere gap  electric field features  shortest interelectrode path  support vector classifier (SVC)  particle swarm optimization (PSO)