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发表日期:2018
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Deterministic and Probabilistic Diagnostic Challenge Generation for Arbiter Physical Unclonable Function
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2018, 卷号: 37, 期号: 12, 页码: 3186-3197
作者:
Ye, Jing
;
Guo, Qingli
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
收藏
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浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2019/04/03
Arbiter physical unclonable function (PUF)
delay fault
diagnostic challenge
fault diagnosis
stuck-at fault
The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose
会议论文
Geneva, SWITZERLAND, OCT 02-06, 2017
作者:
Zheng, Qiwen
;
Cui, Jiangwei
;
Lu, Wu
;
Guo, Hongxia
;
Liu, Jie
收藏
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浏览/下载:40/0
  |  
提交时间:2018/10/08
Charge sharing
single-event upset (SEU)
static random access memory
total ionizing dose (TID)
Investigation of flux dependent sensitivity on single event effect in memory devices
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 7, 页码: 076101
作者:
Liu, Tian-qi
;
Xi, Kai
;
Hou, Ming-dong
;
Sun, You-mei
;
Duan, Jing-lai
收藏
  |  
浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2018/10/08
ion flux
single event effect
GEANT4 simulation
memory device
The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1920-1927
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1 ]
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)[ 1 ]
;
Liu, J (Liu, Jie)[ 2 ]
收藏
  |  
浏览/下载:53/0
  |  
提交时间:2018/09/27
Charge Sharing
Single-event Upset (Seu)
Static Random Access Memory
Total Ionizing Dose (Tid)
TCAD Simulation for nonresonant terahertz detector based on double-channel GaN/AlGaN high-electron-mobility transistor
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2018, 卷号: 65, 页码: 4807-4813
作者:
Meng, Qingzhi
;
Lin, Qijing
;
Jing, Weixuan
;
Han, Feng
;
Zhao, Man
收藏
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浏览/下载:44/0
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提交时间:2019/11/19
Computational model
Double channel
High electron mobility transistor (HEMT)
Noise equivalent power
Nonresonant
Photoresponses
Responsivity
Terahertz detectors
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