QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2018    专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Transmission electron microscopy and high-resolution electron microscopy studies of structural defects induced in Si single crystals implanted by helium ions at 600 degrees C 期刊论文 APPLIED SURFACE SCIENCE, 2018, 卷号: 455, 页码: 433-437 作者:  Han, W. T.;  Liu, H. P.;  Li, B. S. 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2018/10/08 He implantation  Si  Transmission electron microscopy  Cavities  Frank loops