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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2018    内容类型：会议论文    专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy 会议论文 Chengdu, PEOPLES R CHINAChengdu, PEOPLES R CHINA, JUN 26-29, 2018JUN 26-29, 2018 作者:  Xie, Zhongye;  Tang, Yan;  Liu, Xi;  Yang, Kejun;  Hu, Song 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/08/23 thin films  Fourier transform  microscopy  surface topography  digital micro-mirror devices  modulation