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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2017     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Phase shifting-based debris effect detection in USV-assisted AFM nanomachining 期刊论文 Applied Surface Science, 2017, 卷号: 413, 页码: 317-326 作者:  Shi JL(施佳林);  Liu LQ(刘连庆);  Yu P(于鹏);  Cong Y(丛杨);  Li GY(李广勇) 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2017/05/01 Atomic force microscopy (AFM)  Nanomachining  Ultrasonic vibration  Thin-film