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科研机构
近代物理研究所 [9]
内容类型
会议论文 [5]
期刊论文 [4]
发表日期
2017 [9]
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共9条,第1-9条
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发表日期:2017
专题:近代物理研究所
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A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
会议论文
作者:
Yan, Weiwei
;
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2018/08/20
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
Low energy proton induced single event upset in 65 nm DDR and QDR commercial SRAMs
会议论文
作者:
Ye, B.
;
Liu, J.
;
Wang, T. S.
;
Liu, T. Q.
;
Maaz, K.
收藏
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浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2018/08/20
SRAM
Low energy proton
Single event upset
Direct ionization
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 437-442
作者:
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
;
Khan, Maaz
收藏
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2018/05/31
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
Low energy proton induced single event upset in 65 nm DDR and QDR commercial SRAMs
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 443-448
作者:
Ye, B.
;
Liu, J.
;
Wang, T. S.
;
Liu, T. Q.
;
Maaz, K.
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2018/05/31
SRAM
Low energy proton
Single event upset
Direct ionization
Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 页码: 6
作者:
Ye, Bing
;
Liu, Jie
;
Wang, Tie-Shan
;
Liu, Tian-Qi
;
Luo, Jie
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2018/05/31
single event upset
energy straggle
proton irradiation
nanodevice
Application of SEU imaging for analysis of device architecture using a 25 MeV/u Kr-86 ion microbeam at HIRFL
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 404, 页码: 254-258
作者:
Wang, Bin
;
Liu, Tianqi
;
Liu, Jie
;
Yang, Zhenlei
;
Guo, Jinlong
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2018/05/31
Heavy-ion microbeam
High-energy
Single event upset
FPGA
Imaging
Application of SEU imaging for analysis of device architecture using a 25 MeV/u Kr-86 ion microbeam at HIRFL
会议论文
作者:
Su, Hong
;
Liu, Tianqi
;
Yang, Zhenlei
;
Guo, Jinlong
;
Du, Guanghua
收藏
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2018/08/20
Heavy-ion microbeam
High-energy
Single event upset
FPGA
Imaging
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