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一种多孔碳纳米薄膜及其微测辐射热计 专利
专利号: 2016105690464, 申请日期: 2017-07-18,
作者:  杨俊;  魏兴战;  汤林龙;  申钧;  周大华
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光走査装置、およびそれを備えた画像形成装置 专利
专利号: JP2017064992A, 申请日期: 2017-04-06, 公开日期: 2017-04-06
作者:  横田 壮太郎;  大林 誠;  渡邊 義和
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一种多孔碳纳米薄膜及其红外微测辐射热计 专利
专利号: 2016207605762, 申请日期: 2017-01-18,
作者:  杨俊;  魏兴战;  汤林龙;  申钧;  周大华
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