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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2016     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Back-Channel-Etched Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistor Technology With Al-Doped ZnO as Source/Drain and Pixel Electrodes 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016 Deng, Wei; Xiao, Xiang; Shao, Yang; Song, Zhen; Lee, Chia-Yu; Lien, Alan; Zhang, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 Aluminum-doped ZnO (AZO)  amorphous indium-gallium-zinc oxide (a-IGZO)  back-channel-etch (BCE)  pixel electrode (PE)  thin-film transistor (TFT)  wet etch  THRESHOLD VOLTAGE  PERFORMANCE  DAMAGE  LAYER  TFTS  SIO2   Investigation into sand mura effects of a-IGZO TFT LCDs 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2016 Liu, Xiang; Hu, Hehe; Ning, Ce; Shang, Guangliang; Yang, Wei; Wang, Ke; Lu, Xinhong; Lee, Woobong; Wang, Gang; Xue, Jianshe; Jun, Jung Mok; Zhang, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2017/12/03 a-IGZO TFTs  LCD reliability test  Sand mura  Threshold voltage shift  Positive  Thermal gate bias stress  THIN-FILM TRANSISTORS   High reliability of IGZO TFTs using low-temperature fabricated organic passivation layers 其他 2016-01-01 Huiling Lu; Ting Liang; Shengdong Zhang 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2017/12/03 swing  degraded  resist  indium  amorphous  remarkably  sputtering  annealing  candidate  magnetron  swing  degraded  resist  indium  amorphous  remarkably  sputtering  annealing  candidate  magnetron