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| 一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置 专利 专利号: CN205720696U, 申请日期: 2016-11-23, 公开日期: 2016-11-23 作者: 刘军 ; 欧阳晓平; 黑东炜; 盛亮; 张建福
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| 基于X射线的VLBI测量方法和系统以及地面验证装置 专利 专利号: CN201610985872.7, 申请日期: 2016-11-09, 公开日期: 2017-05-10 作者: 苏桐; 盛立志; 赵宝升; 高玉平; 罗近涛
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| 具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统及方法 专利 专利号: CN201610969961.2, 申请日期: 2019-03-08, 作者: 马臻 ; 陈钦芳; 白永林 ; 樊学武![](/image/person.jpg)
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| 一种可在轨调焦的空间调制干涉光谱成像系统及方法 专利 专利号: CN201610915475.2, 申请日期: 2016-10-20, 公开日期: 2017-02-22 作者: 李思远; 刘强; 张宏建; 武登山; 张周峰
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| 基于数字微镜的大动态激光远场焦斑测量系统及测量方法 专利 专利号: CN201610854324.0, 申请日期: 2016-09-27, 公开日期: 2016-12-21 作者: 袁索超; 李红光; 达争尚
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| 一种基于半导体激光器的X射线辐射场探测装置及方法 专利 专利号: CN105866822A, 申请日期: 2016-08-17, 公开日期: 2016-08-17 作者: 刘军 ; 欧阳晓平; 黑东炜; 张忠兵; 谭新建
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| 一种脉冲激光测距装置及采用该装置的脉冲激光测距方法 专利 专利号: CN103941262B, 申请日期: 2016-06-29, 公开日期: 2016-06-29 作者: 王少平; 梁华为; 梅涛; 陈向成; 刘伟![](/image/person.jpg)
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| 一种线性调频微波信号生成方法及装置 专利 专利号: CN105703837A, 申请日期: 2016-06-22, 公开日期: 2016-06-22 作者: 张方正; 周沛; 潘时龙; 郭清水
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| 扫描振镜振动参数的测量系统和测量方法 专利 专利号: CN201610443918.2, 申请日期: 2016-06-20, 公开日期: 2016-11-09 作者: 李坤; 陈永权; 赵建科; 薛勋; 刘尚阔
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