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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2016    专题：上海光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Measurement of bulk defects for KDP crystal billet with focused line scanning 期刊论文 光学精密工程, 2016, 期号: 12, 页码: 3020 作者:  Ni KZ(倪开灶);  Liu SJ(刘世杰);  Chen J(陈坚);  Wu ZL(吴周令) 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2017/12/25