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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2016    专题：上海技术物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 紫外红外双色焦平面探测器阵列及其性能设计和制备方法 专利 专利号: 201610406753.1, 申请日期: 2016-06-12, 公开日期: 2017-06-27 作者:  1胡伟达 2 白杰 3 陈效双 4 陆卫 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2017/12/12 折反射式零位补偿检验(续) 期刊论文 光子学报, 2016, 期号: 12, 页码: 96-99 作者:  张珑;  胡文琦;  郑列华;  郝沛明 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2018/11/20 光学设计  折反射式补偿器  三级像差理论  非球面  零位补偿检验  大口径  大相对孔径