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光电技术研究所 [2]
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期刊论文 [2]
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2016 [2]
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发表日期:2016
专题:光电技术研究所
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Positioning control system of three-dimensional wafer stage of lithography
期刊论文
Proceedings of SPIE: 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Design, Manufacturing, and Testing of Micro- and Nano-Optical Devices and Systems; and Smart Structures and Materials, 2016, 卷号: 9685, 页码: 96850T
作者:
Tian, Peng
;
Yan, Wei
;
Yang, Fan
;
Li, Fanxing
;
Hu, Song
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提交时间:2018/06/14
Closed Loop Systems
Control Systems
Lithography
Manufacture
Materials Testing
Optical Devices
Pulse Width Modulation
Stepping Motors
A method on error analysis for large-aperture optical telescope control system
期刊论文
Proceedings of SPIE: 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Large Mirrors and Telescopes, 2016, 卷号: 9682, 页码: 96820C
作者:
Su, Yanrui
;
Wang, Qiang
;
Yan, Fabao
;
Liu, Xiang
;
Huang, Yongmei
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浏览/下载:18/0
  |  
提交时间:2018/06/14
Control Systems
Error Analysis
Errors
Feedback
Frequency Domain Analysis
Jitter
Manufacture
Metal Drawing
Mirrors
Optical Telescopes
Optical Testing
Speed
Units Of Measurement
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