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集测厚仪、密度计和料位计于一体的测量装置及测量方法 专利
申请日期: 2016-12-07,
作者:  李永宏;  祁陆凯;  贺朝会;  张清民
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一种介质材料的二次电子能谱测量装置及测量方法 专利
申请日期: 2016-11-09,
作者:  翁明;  李永东;  张秀生;  刘婉;  王芳
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一种位置度快速检测装置及测量方法 专利
申请日期: 2016-07-27,
作者:  李兵;  兰梦辉;  孙彬;  杜俊伟;  侯颖
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一种机床导轨安装平面平行度的快速测量装置及测量方法 专利
申请日期: 2016-06-22,
作者:  贾书海;  郭凯;  宋晓波;  蒋太权;  梅雪松
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