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北京大学 [1]
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其他 [1]
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2016 [1]
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ESD-Reliability Characterizations of a 45-V p-Channel LDMOS-SCR with the Discrete-Cathode End
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Huang, Yu-Ting
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
;
Chen, Kuei-Jyun
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提交时间:2017/12/03
P-type laterally-diffused metal oxide semiconductor (pLDMOS)
Electrostatic Discharge (ESD)
Holding voltage (V-h)
Secondary breakdown current (I-t2)
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