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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2016    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Study of impact of LATID on HCI reliability for LDMOS devices 其他 2016-01-01 Chandrashekhar; Sheu, Gene; Yang, Shao Ming; Chien, Ting Yao; Lin, Yun Jung; Wu, Chieh Chih; Lee, Tzu Chieh 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2017/12/03 HOT-CARRIER RELIABILITY  DEGRADATION  TRANSISTORS  MOSFET