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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2015     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Failure Analysis of Plastic Encapsulated Microcircuits During Burn-in of Screening Test 会议论文 PROCEEDINGS OF THE 2015 FIRST INTERNATIONAL CONFERENCE ON RELIABILITY SYSTEMS ENGINEERING 2015 ICRSE, 2015-01-01 作者:  Jia, Meisi;  Zhang, Sujuan 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2020/01/06 burn-in  screening  delamination  failure analysis  plastic encapsulated microcircuits (PEMs)  design for packaging reliability