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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2015     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Influence of multi-deposition multi-annealing on time-dependent dielectric breakdown characteristics of PMOS with high- k /metal gate last process 期刊论文 Chinese Physics B, 2015 作者:  Wang WW(王文武);  Wang YR(王艳蓉) 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2016/05/31 Analysis on the Thickness and Temperature Dependent DC Breakdown of Low Density Polyethylene 会议论文 作者:  Min, Daomin;  Li, Shengtao;  Ohki, Yoshimichi 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/02 temperature  molecular chain displacement  dc breakdown  charge transport  thickness  low density polyethylene   Characterization of Leakage and Reliability of SiNx Gate Dielectric by Low-Pressure Chemical Vapor Deposition for GaN-based MIS-HEMTs 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2015, 卷号: 62, 期号: 10, 页码: 8 作者:  Hua, MY;  Liu, C;  Yang, S;  Liu, SH;  Fu, K 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2015/12/31 Gallium nitride  gate dielectric  low-pressure chemical vapor deposition (LPCVD)  silicon nitride