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新疆理化技术研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2015 [1]
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发表日期:2015
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电离辐射对部分耗尽绝缘体上硅器件低频噪声特性的影响
期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 7, 页码: 393-398
作者:
刘远
;
陈海波
;
何玉娟
;
王信
;
岳龙
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提交时间:2015/06/26
绝缘体上硅
部分耗尽
电离辐射
低频噪声
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