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高能物理研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2015 [1]
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发表日期:2015
专题:高能物理研究所
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Band Alignment of Atomic Layer Deposited Al
2
O
3
/Zn
0.8
Al
0.2
Oy Hetero-interface Determined by X-ray Photoelectron Spectroscopy
期刊论文
The 6th International Conference on Nanoscience & Technology, China 2015;中国北京;2015;, 2015
作者:
Yan BJ(闫保军)
;
Liu SL(刘术林)
;
Heng YK(衡月昆)
;
Baojun Yan
;
Shulin Liu
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提交时间:2016/04/18
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