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苏州纳米技术与纳米仿... [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2015 [8]
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发表日期:2015
专题:苏州纳米技术与纳米仿生研究所
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Growth condition optimization and mobility enhancement through prolonging the GaN nuclei coalescence process of AlGaN/AlN/GaN structure
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 9, 页码: 4
作者:
He, XG
;
Zhao, DG
;
Jiang, DS
;
Zhu, JJ
;
Chen, P
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2015/12/31
high electron mobility transistor
two-dimensional electron gas
GaN
Investigation of high sensitivity radio-frequency readout circuit based on AlGaN/GaN high electron mobility transistor
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 10, 页码: 4
作者:
Zhang, XY(张晓渝)
;
Tan, RB(谭仁兵)
;
Sun, JD(孙建东)
;
Li, XX(李欣幸)
;
Zhou, Y(周宇)
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2015/12/31
radio-frequency circuit
high electron mobility transistor
The effect of symmetry on resonant and nonresonant photoresponses in a field-effect terahertz detector
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2015, 卷号: 106, 期号: 3, 页码: 5
作者:
Sun, JD(孙建东)
;
Qin, H(秦华)
;
Lewis, RA
;
Yang, XX(杨昕昕)
;
Sun, YF(孙云飞)
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2015/12/31
16.8 A/600 V AlGaN/GaN MIS-HEMTs employing LPCVD-Si3N4 as gate insulator
期刊论文
ELECTRONICS LETTERS, 2015, 卷号: 51, 期号: 15, 页码: 2
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Zhang, XD(于国浩)
;
Tan, SX
;
Wu, DD(吴冬东)
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浏览/下载:45/0
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提交时间:2015/12/31
Normally Off AlGaN/GaN MIS-High-Electron Mobility Transistors Fabricated by Using Low Pressure Chemical Vapor Deposition Si3N4 Gate Dielectric and Standard Fluorine Ion Implantation
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015, 卷号: 36, 期号: 11, 页码: 4
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Fu, K(付凯)
;
Deng, XG(邓旭光)
;
Zhang, XD(张晓东)
;
Fan, YM(范亚明)
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浏览/下载:66/0
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提交时间:2015/12/31
AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT)
standard fluorine ion implantation
normally off
Label free electrical detection of prostate specific antigen with millimeter grade biomolecule-gated AlGaN/GaN high electron mobility transistors
期刊论文
MICROSYSTEM TECHNOLOGIES-MICRO-AND NANOSYSTEMS-INFORMATION STORAGE AND PROCESSING SYSTEMS, 2015, 卷号: 21, 期号: 7, 页码: 6
作者:
Li, JD(李加东)
;
Cheng, JJ(程珺洁)
;
Miao, B(苗斌)
;
Wei, XW(魏晓玮)
;
Xie, J(谢杰)
收藏
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2015/12/31
Characterization of Leakage and Reliability of SiNx Gate Dielectric by Low-Pressure Chemical Vapor Deposition for GaN-based MIS-HEMTs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2015, 卷号: 62, 期号: 10, 页码: 8
作者:
Hua, MY
;
Liu, C
;
Yang, S
;
Liu, SH
;
Fu, K
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2015/12/31
Gallium nitride
gate dielectric
low-pressure chemical vapor deposition (LPCVD)
silicon nitride
Mapping an on-chip terahertz antenna by a scanning near-field probe and a fixed field-effect transistor
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 5
作者:
Lu, L
;
Sun, JD(孙建东)
;
Lewis, RA
;
Sun, YF(孙云飞)
;
Wu, DM(吴东岷)
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2015/12/31
terahertz detector
terahertz antenna
near-field probe
high electron mobility transistor
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