QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2015    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Accelerated Aging in Analog and Digital Circuits With Feedback 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2015 Sutaria, Ketul B.; Mohanty, Abinash; Wang, Runsheng; Huang, Ru; Cao, Yu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 Circuit aging  bias runaway  BTI  CHC  DVS  aging models and simulation framework  BIAS TEMPERATURE INSTABILITY  HOT-CARRIER DEGRADATION  DEEP-SUBMICRON NMOSFETS  E-E SCATTERING  NBTI  RELIABILITY  SIMULATION  DESIGN  CROSS  MODEL   Reliability variability simulation methodology for IC design: an EDA perspective 其他 2015-01-01 Zhang, Aixi; Huang, Chunyi; Guo, Tianlei; Chen, Alvin; Guo, Shaofeng; Wang, Runsheng; Huang, Ru; Xie, Jushan 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2017/12/03