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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2015    内容类型：期刊论文    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Line-edge roughness induced single event transient variation in SOI FinFETs 期刊论文 半导体学报（英文版）, 2015 Wu Weikang; An Xia; Jiang Xiaobo; Chen Yehua; Liu Jingjing; Zhang Xing; Huang Ru 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2017/12/03 heavy ion irradiation single event transient variation line-edge roughness SOI FinFET  heavy ion irradiation  single event transient  variation  line-edge roughness  SOI  FinFET