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一种用于研究负离子体系的光电子成像装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310539055.5, 申请日期: 2015-11-01, 公开日期: 2015-05-06
作者:  王利;  刘本康;  王艳秋
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一种用于飞行时间质谱的磁控溅射团簇离子源 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310291516.1, 申请日期: 2015-11-01, 公开日期: 2015-01-14
作者:  唐紫超;  秦正波;  张世宇
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一种时间分辨的带电粒子成像装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310536198.0, 申请日期: 2015-11-01, 公开日期: 2015-05-06
作者:  刘本康;  王利;  王艳秋
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一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310123964.0, 申请日期: 2015-11-01, 公开日期: 2014-10-15
作者:  唐紫超;  史磊;  吴小虎;  王兴龙;  任文峰
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激光环路光子晶体气室式痕量气体分子浓度测量方法 专利
专利号: CN102608043B, 申请日期: 2015-06-10, 公开日期: 2015-06-10
作者:  李志全;  童凯;  王志斌;  牛立勇;  李文超
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