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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2014     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Gate Bias Stress-Induced Threshold Voltage Shift Effect of a-IGZO TFTs with Cu Gate 期刊论文 ieee电子器件汇刊, 2014 Liu, Xiang; Wang, Lisa Ling; Ning, Ce; Hu, Hehe; Yang, Wei; Wang, Ke; Yoo, Seong Yeol; Zhang, Shengdong 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/10 Amorphous indium gallium zinc oxide thin-film transistors (a-IGZO TFTs)  copper diffusion  copper gate  stacked gate insulator  threshold voltage shift  THIN-FILM TRANSISTORS