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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 发表日期：2014    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Experimental study on the oxide trap coupling effect in metal oxide semiconductor field effect transistors with HfO2 gate dielectrics 期刊论文 应用物理学快报, 2014 Ren, Pengpeng; Wang, Runsheng; Jiang, Xiaobo; Qiu, Yingxin; Liu, Changze; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 High temperature behavior of multi-region direct current current-voltage spectroscopy and relationship with shallow-trench-isolation-based high-voltage laterally diffused metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors reliability 期刊论文 日本应用物理学杂志, 2014 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 INTERFACE TRAPS  SMART POWER  LDMOS  PHYSICS  DCIV   High temperature behavior of multi-region direct current current-voltage spectroscopy and relationship with shallow-trench-isolation-based high-voltage laterally diffused metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors reliability 其他 2014-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 Understanding the Correlation of HCI and NBTI Degradation in pLDMOSFETs from MR-DCIV Technique 其他 2014-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2015/11/13 TRANSISTORS  SILICON   Understanding of self-heating enhanced degradation in pLDMOSFETs by MR-DCIV method 其他 2014-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13