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基于相干衍射法的高精度相位成像与测量技术研究 学位论文
硕士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2013
作者:  潘兴臣
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电荷耦合器件饱和效应对PIE成像质量的影响 期刊论文
光学学报, 2013, 卷号: 33, 期号: 6, 页码: 611001
作者:  王宝升;  高淑梅;  王继成;  朱健强;  刘诚
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