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科研机构
上海技术物理研究所 [2]
西安光学精密机械研究... [1]
内容类型
专利 [2]
期刊论文 [1]
发表日期
2013 [3]
学科主题
红外探测材料与器件 [1]
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发表日期:2013
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激光测距装置
专利
专利号: CN103299157A, 申请日期: 2013-09-11, 公开日期: 2013-09-11
作者:
瓦列里·瓦西列也维奇·巴拉纽克
;
伊戈立·维塔列也维奇·米舍辽柯夫
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2020/01/13
基于全内反射的偏振相位差快速测量
期刊论文
光学学报, 2013, 卷号: 0, 期号: 12
蔡清元
;
罗海瀚
;
陈刚
;
刘定权
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提交时间:2014/11/05
薄膜
光学监控
偏振相位差
全内反射
快速测量
一种快速反演薄膜生长厚度的光学监控追迹方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: 201210501871.2, 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2015
-
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提交时间:2016/05/07
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