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激光测距装置 专利
专利号: CN103299157A, 申请日期: 2013-09-11, 公开日期: 2013-09-11
作者:  瓦列里·瓦西列也维奇·巴拉纽克;  伊戈立·维塔列也维奇·米舍辽柯夫
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基于全内反射的偏振相位差快速测量 期刊论文
光学学报, 2013, 卷号: 0, 期号: 12
蔡清元; 罗海瀚; 陈刚; 刘定权
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一种快速反演薄膜生长厚度的光学监控追迹方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201210501871.2, 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2015
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