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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2012    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Multiregion DCIV: A Sensitive Tool for Characterizing the Si/SiO2 Interfaces in LDMOSFETs 期刊论文 ieee electron device letters, 2012 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/10 Interface traps  multiregion direct-current current-voltage (MR-DCIV)  nondestructive characterization technique  shallow trench isolation (STI)-based LDMOSFET  MOS-TRANSISTORS  TRAPS  DEGRADATION   Investigation of Hot Carrier Degradation in Shallow-Trench-Isolation-Based High-Voltage Laterally Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors by a Novel Direct Current Current-Voltage Technique 期刊论文 日本应用物理学杂志, 2012 He, Yandong; Zhang, Ganggang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 SMART POWER   Inter-CMOS Process for Monolithic Integrated MEMS Resonator 其他 2012-01-01 Zhao, Danqi; Yang, Fang; Lin, Chen; Zhang, Dacheng 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/13 FABRICATION  DEVICES