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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2011     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Statistical Analysis of Retention Behavior and Lifetime Prediction of HfO(x)-based RRAM 其他 2011-01-01 Zhang, Lijie; Huang, Ru; Hsu, Yen-Ya; Chen, Frederick T.; Lee, Heng-Yuan; Chen, Yu-Sheng; Chen, Wei-Su; Gu, Pei-Yi; Liu, Wen-Hsing; Wang, Shun-Min; Tsai, Chen-Han; Tsai, Ming-Jinn; Chen, Pang-Shiu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 lifetime  data retention  breakdown  RRAM  MECHANISM  POWER   Residual breakdown voltage prediction of simple oil-paper insulation model 期刊论文 Gaodianya Jishu/High Voltage Engineering, 2011, 卷号: 37, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 910-915 作者:  Shen, Wei;  Fan, Ting-Dong;  Cao, Wen;  Wu, Kai;  Cheng, Yong-Hong 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/10 Condition based maintenance  Insulation conditions  Leakage resistance  Multiple parameters  Oil paper insulation  Parameter selection  Residual breakdown voltages  Statistical theory