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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2010     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Quantitative strain characterization of sige heterostructures by high-resolution transmission electron microscopy 期刊论文 Physica b-condensed matter, 2010, 卷号: 405, 期号: 16, 页码: 3433-3435 作者:  Zhao, C. W.;  Xing, Y. M.;  Yu, J. Z.;  Han, G. Q. 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2019/05/12 Si/ge heterostructures  Strain  High-resolution transmission electron  Microscopy   Quantitative strain characterization of SiGe heterostructures by high-resolution transmission electron microscopy 期刊论文 physica b-condensed matter, 2010, 卷号: 405, 期号: 16, 页码: 3433-3435 Zhao CW (Zhao C. W.); Xing YM (Xing Y. M.); Yu JZ (Yu J. Z.); Han GQ (Han G. Q.) 收藏  |  浏览/下载：100/3  |  提交时间：2010/09/07 Si/Ge heterostructures  Strain  High-resolution Transmission electron  microscopy