×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
力学研究所 [1]
兰州大学 [1]
苏州纳米技术与纳米仿... [1]
地球化学研究所 [1]
内容类型
会议论文 [4]
发表日期
2008 [4]
学科主题
electroche... [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
限定条件
发表日期:2008
内容类型:会议论文
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Raman spectroscopic characterization of the microstructure of V2O5 films
会议论文
4th International Conference on Materials for Advanced Technologies, Singapore, SINGAPORE, JUL 01-06, 2007
作者:
Su, Q
;
Liu, XQ
;
Ma, HL
;
Guo, YP
;
Wang, YY
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2015/07/31
V2O5 films
Raman spectroscopy
microstructure
oxygen vacancy
An automatic imaging spectroscopic ellipsometer for characterization of nano-film pattern on solid substrate
会议论文
4th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-4), Stockholm, SWEDEN, JUN 11-15, 2007
作者:
Chen YY(陈艳艳)
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2010/01/15
Tourmalines from the Koktokay No.3 pegmatite, Altai, NW China: spectroscopic characterization and relationships with the pegmatite evolution
会议论文
6th European Conference on Mineralogy and Spectroscopy, Stockholm, SWEDEN, 2007
Zhang, AC
;
Wang, RC
;
Li, YL
;
Hu, H
;
Lu, XC
;
Ji, JF
;
Zhang, H
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2010/04/15
An automatic imaging spectroscopic ellipsometer for characterization of nano-film pattern on solid substrate
会议论文
4th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-4), Stockholm, SWEDEN, JUN 11-15, 2007
作者:
Meng YH(孟永宏)
;
Chen YY(陈艳艳)
;
Qi C(齐财)
;
Liu L(刘丽)
;
Jin G(靳刚)
收藏
  |  
浏览/下载:1153/91
  |  
提交时间:2009/07/23
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace