×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
半导体研究所 [18]
内容类型
期刊论文 [16]
会议论文 [2]
发表日期
2006 [18]
学科主题
半导体材料 [8]
光电子学 [4]
半导体物理 [4]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共18条,第1-10条
帮助
限定条件
发表日期:2006
专题:半导体研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Thermal stress analysis for gainasp multiple quantum well wafer chemically bonded to si (100)
期刊论文
Journal of applied physics, 2006, 卷号: 100, 期号: 2, 页码: 8
作者:
Zhao, Hong-Quan
;
Yu, Li-Juan
;
Huang, Yong-Zhen
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2019/05/12
Study on surface morphology of gan growth by mocvd on gan/si(111) template
期刊论文
Journal of rare earths, 2006, 卷号: 24, 页码: 11-13
作者:
Liu, Z
;
Wang, JX
;
Wang, XL
;
Hu, GX
;
Guo, LC
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2019/05/12
Surface morphology
Gan/si template
Gan
Mocvd
Study on surface morphology of GaN growth by MOCVD on GaN/Si(111) template
会议论文
3rd asian conference on crystal growth and crystal technology (cgct-3), beijing, peoples r china, oct 16-19, 2005
Liu, Z
;
Wang, JX
;
Wang, XL
;
Hu, GX
;
Guo, LC
;
Liu, HX
;
Li, JP
;
Li, JM
;
Zeng, YP
收藏
  |  
浏览/下载:224/40
  |  
提交时间:2010/03/29
surface morphology
Electrical properties of undoped In0.53Ga0.47As grown on InP substrates by molecular beam epitaxy
期刊论文
journal of crystal growth, 2006, 卷号: 293, 期号: 2, 页码: 291-293
Cui LJ (Cui L. J.)
;
Zeng YP (Zeng Y. P.)
;
Wang BQ (Wang B. Q.)
;
Zhu ZP (Zhu Z. P.)
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2010/04/11
characterization
point defects
molecular beam epitaxy
semiconducting gallium compounds
semiconducting indium compounds
semiconducting ternary compounds
1.55 MU-M
QUANTUM-WELLS
TEMPERATURE
GAAS
Electrical properties of B-doped polycrystalline silicon thin films prepared by rapid thermal chemical vapour deposition
期刊论文
thin solid films, 2006, 卷号: 497, 期号: 1-2, 页码: 157-162
Ai B
;
Shen H
;
Liang ZC
;
Chen Z
;
Kong GL
;
Liao XB
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/04/11
chemical vapour deposition
electrical properties and measurements
scanning electron microscopy
polycrystalline silicon
GRAIN-BOUNDARIES
STATES
Effect of GaAS(100) 2 degrees surface misorientation on the formation and optical properties of MOCVD grown InAs quantum dots
期刊论文
applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 23, 页码: 8126-8130
Liang S (Liang S.)
;
Zhu HL (Zhu H. L.)
;
Ye XL (Ye X. L.)
;
Wang W (Wang W.)
收藏
  |  
浏览/下载:40/0
  |  
提交时间:2010/04/11
photoluminescence
quantum dots
indium arsenide
1.3 MU-M
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
PHASE-EPITAXY
GAAS
LUMINESCENCE
SUBSTRATE
ISLANDS
DENSITY
LASERS
LAYER
Crack control in GaN grown on silicon (111) using In doped low-temperature AlGaN interlayer by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
optical materials, 2006, 卷号: 28, 期号: 10, 页码: 1227-1231
Wu JJ (Wu Jiejun)
;
Han XX (Han Xiuxun)
;
Li JM (Li Jiemin)
;
Wei HY (Wei Hongyuan)
;
Cong GW (Cong Guangwei)
;
Liu XL (Liu Xianglin)
;
Zhu QS (Zhu Qinsheng)
;
Wang ZG (Wang Zhanguo)
;
Jia QJ (Jia Quanjie)
;
Guo LP (Guo Liping)
;
Hu TD (Hu Tiandou)
;
Wang HH (Wang Huanhua)
收藏
  |  
浏览/下载:51/0
  |  
提交时间:2010/04/11
in doping
cracks
Si(111) substrate
LT-AlGaN interlayer
metalorganic chemical vapor deposition
GaN
PHASE EPITAXY
INDIUM-SURFACTANT
OPTICAL-PROPERTIES
SI(111)
STRESS
FILMS
The effect of AlN growth time on the electrical properties of Al0.38Ga0.62N/AlN/GaN HEMT structures
期刊论文
journal of crystal growth, 2006, 卷号: 289, 期号: 2, 页码: 415-418
Wang CM
;
Wang XL
;
Hu GX
;
Wang JX
;
Xiao HL
;
Li JP
收藏
  |  
浏览/下载:44/0
  |  
提交时间:2010/04/11
2DEG
MOCVD
semiconducting III-V materials
HEMT
power devices
HETEROSTRUCTURES
PASSIVATION
SAPPHIRE
ALGAN
FIELD
GAS
Enhancement of photoluminescence intensity of GaInNAs/GaAs quantum wells by two-step rapid thermal annealing
期刊论文
chinese physics letters, 2006, 卷号: 23, 期号: 9, 页码: 2579-2582
Zhao H (Zhao Huan)
;
Xu YQ (Xu Ying-Qiang)
;
Ni HQ (Ni Hai-Qiao)
;
Han Q (Han Qin)
;
Wu RH (Wu Rong-Han)
;
Niu ZC (Niu Zhi-Chuan)
收藏
  |  
浏览/下载:44/0
  |  
提交时间:2010/04/11
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
IMPROVED LUMINESCENCE EFFICIENCY
ORIGIN
Thermal stress analysis for GaInAsP multiple quantum well wafer chemically bonded to Si (100)
期刊论文
journal of applied physics, 2006, 卷号: 100, 期号: 2, 页码: art.no.023513
Zhao HQ (Zhao Hong-Quan)
;
Yu LJ (Yu Li-Juan)
;
Huang YZ (Huang Yong-Zhen)
收藏
  |  
浏览/下载:35/0
  |  
提交时间:2010/04/11
ACTIVATED BONDING METHOD
ROOM-TEMPERATURE
EPITAXIAL OVERGROWTHS
SURFACE
CRYSTAL
GAAS
TECHNOLOGY
ENERGY
FILMS
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace