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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 发表日期：2006    学科主题：光电子学     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Influence of cracks generation on the structural and optical properties of GaN/Al0.55Ga0.45N multiple quantum wells 期刊论文 applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 8, 页码: 3043-3050 作者:  Zhang SM 收藏  |  浏览/下载：84/0  |  提交时间：2010/04/11 nitrides  multiple quantum wells  cracks  dislocations  vacancies x-ray diffraction  X-RAY-DIFFRACTION  EDGE DISLOCATIONS  GAN  FILMS  SUPERLATTICES  RELAXATION  STRAIN   Effects of grain size on the mosaic tilt and twist in InN films grown on GaN by metal-organic chemical vapor deposition 期刊论文 applied physics letters, 2006, 卷号: 89, 期号: 9, 页码: art.no.092114 Wang H (Wang H.); Huang Y (Huang Y.); Sun Q (Sun Q.); Chen J (Chen J.); Wang LL (Wang L. L.); Zhu JJ (Zhu J. J.); Zhao DG (Zhao D. G.); Zhang SM (Zhang S. M.); Jiang DS (Jiang D. S.); Wang YT (Wang Y. T.); Yang H (Yang H.) 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2010/04/11 X-RAY-DIFFRACTION  ELECTRON-TRANSPORT  EPITAXIAL GAN  BAND-GAP  DISLOCATIONS  SAPPHIRE  ALN   Measurement of threading dislocation densities in GaN by wet chemical etching 期刊论文 semiconductor science and technology, 2006, 卷号: 21, 期号: 9, 页码: 1229-1235 作者:  Yang H;  Zhu JJ;  Yang H;  Wang H;  Wang H 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2010/04/11 X-RAY-DIFFRACTION   Role of edge dislocations in enhancing the yellow luminescence of n-type GaN 期刊论文 applied physics letters, 2006, 卷号: 88, 期号: 24, 页码: art.no.241917 作者:  Jiang DS;  Zhu JJ;  Li XY;  Zhang SM;  Zhao DG 收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2010/04/11 CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION  MOLECULAR-BEAM EPITAXY  X-RAY-DIFFRACTION  MG-DOPED GAN  UNDOPED GAN  PHOTOLUMINESCENCE BANDS  THREADING DISLOCATIONS  POSITRON-ANNIHILATION  GROWTH STOICHIOMETRY  GALLIUM NITRIDE   Evolution of mosaic structure in InN grown by metalorganic chemical vapor deposition 期刊论文 journal of crystal growth, 2006, 卷号: 293, 期号: 2, 页码: 269-272 Huang Y (Huang Y.); Wang H (Wang H.); Sun Q (Sun Q.); Chen J (Chen J.); Li DY (Li D. Y.); Zhang JC (Zhang J. C.); Wang JF (Wang J. F.); Wang YT (Wang Y. T.); Yang H (Yang H.) 收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2010/04/11 growth mode  X-ray diffraction  metalorganic chemical vapor deposition  indium nitride  X-RAY-DIFFRACTION  THREADING DISLOCATIONS  ELECTRON-TRANSPORT  BUFFER LAYER  THIN-FILMS  GAN FILMS  SAPPHIRE  ALN   Structural characterization of AlGaN/GaN superlattices by x-ray diffraction and Rutherford backscattering 期刊论文 superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 40, 期号: 3, 页码: 137-143 Zhou SQ (Zhou Shengqiang); Wu MF (Wu M. F.); Yao SD (Yao S. D.); Zhang BS (Zhang B. S.); Yang H (Yang H.) 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2010/04/11 nitride semiconductors  superlattice  Rutherford backscattering/channeling  transmission electron microscopy  x-ray diffraction  MULTIPLE-QUANTUM WELLS  OPTICAL-PROPERTIES  INGAN/GAN  STRAIN  INTERFACE  GROWTH  GAN   Effects of edge dislocations and intentional Si doping on the electron mobility of n-type GaN films 期刊论文 applied physics letters, 2006, 卷号: 89, 期号: 11, 页码: art.no.112106 Zhao DG (Zhao D. G.); Yang H (Yang Hui); Zhu JJ (Zhu J. J.); Jiang DS (Jiang D. S.); Liu ZS (Liu Z. S.); Zhang SM (Zhang S. M.); Wang YT (Wang Y. T.); Liang JW (Liang J. W.) 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/04/11 X-RAY-DIFFRACTION  SCATTERING  GROWTH  LAYERS