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科研机构
半导体研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
1996 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
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发表日期:1996
学科主题:半导体材料
专题:半导体研究所
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应变异质结外延材料的缓冲层厚度与Frank-Read源的关系研究
期刊论文
半导体学报, 1996, 卷号: 17, 期号: 3, 页码: 186
邹吕凡
;
王占国
;
范缇文
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提交时间:2010/11/23
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