连续表面微列阵元件检测

	连续表面微列阵元件检测
	邓启凌 ; 杜春雷 ; 王长涛
刊名	光子学报
	2004
卷号	33 期号:11 页码:1317-1320
通讯作者	邓启凌
收录类别	Ei
语种	中文
公开日期	2015-12-24
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/876]
专题	光电技术研究所_微细加工光学技术国家重点实验室（开放室）
推荐引用方式 GB/T 7714	邓启凌,杜春雷,王长涛. 连续表面微列阵元件检测[J]. 光子学报,2004,33(11):1317-1320.
APA	邓启凌,杜春雷,&王长涛.(2004).连续表面微列阵元件检测.光子学报,33(11),1317-1320.
MLA	邓启凌,et al."连续表面微列阵元件检测".光子学报 33.11(2004):1317-1320.