样品位错的扫描透射电镜成像方法

	样品位错的扫描透射电镜成像方法
	牛牧童; 吴东昌; 张锦平; 黄凯; 张燚; 董晓鸣; 曾雄辉; 徐科
	2015-09-09
专利号	CN103175856B
专利类型	发明
权利人	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日期	2013-03-17
专利申请号	2147483647
内容类型	专利
源URL	[http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/3197]
专题	苏州纳米技术与纳米仿生研究所_测试分析平台
作者单位	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	牛牧童,吴东昌,张锦平,等. 样品位错的扫描透射电镜成像方法. CN103175856B. 2015-09-09.