分子影像成像验证系统

	分子影像成像验证系统
	田捷; 安羽; 迟崇巍; 杨鑫
	2014-09-19
专利国别	CN
专利号	CN201420541770.2
专利类型	实用新型
中文摘要	本实用新型涉及一种分子影像成像验证系统。系统包括图像采集部分与图像处理部分：图像采集部分包括：冰冻切片机的柜体与采集装置支架相连接，采集装置支架与相机滑动装置相连接，相机滑动装置与相机支架连接，相机支架与相机连接；相机的转接口与相机镜头的转接口相连接，相机镜头的进光口与发射滤光片支架相连接，发射滤光片内嵌于发射滤光片支架的卡槽中；激发光源出口连接光纤的一端，光纤的另一端指向被观测物体；图像处理部分包括图像处理系统。本实用新型能够完成待检测物体的横截面切片测量，完成白光图像采集、荧光图像采集及与白光图像叠加、荧光图像自动分割、分割区域光子数统计、荧光区域几何信息测量，简化了操作步骤和操作流程。
公开日期	2015-06-24
内容类型	专利
源URL	[http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8843]
专题	自动化研究所_中国科学院分子影像重点实验室
作者单位	中国科学院自动化研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	田捷,安羽,迟崇巍,等. 分子影像成像验证系统. CN201420541770.2. 2014-09-19.