移位测量装置 | |
曾琪峰 孙强 李也凡 张立华 甘泽龙 | |
2014-11-19 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | 201210088557.6 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
中文摘要 | 移位测量装置,涉及一种移位测量装置,为进一步提高信号的平均作用,需要在同样的探测单元数量的情况下,包含更多的探测周期,尽量在设计体积要求更小,或者光源的光斑所占的面积较小等制约下提高信号质量,包括标准光栅和光电读数头,光电读数头包括光源、指示光栅、光电接收单元和信号处理电路。光电接收单元由多个探测单元组成,多个探测单元组成探测单元阵列,并分成三个组,同相位的探测单元属于同一个组,同一个组的探测单元是相互连接的。光电接收单元探测至少一个周期性扫描信号。该光源发出入射光线,经由该扫描掩膜和该标准光栅调制,该光电接收单元接收经过调制的光信号。本发明所述的移位测量装置能有效提高信号的抗污染能力。 |
是否PCT专利 | 是 |
公开日期 | 2014-11-19 |
语种 | 中文 |
专利证书号 | 1521866 |
专利申请号 | 201210088557.6 |
专利代理 | 陶尊新 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/42119] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 曾琪峰 孙强 李也凡 张立华 甘泽龙. 移位测量装置. 201210088557.6. 2014-11-19. |
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