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基于热红外发射光谱的岩石SiO_2定量反演模型研究
杨杭 ; 张立福 ; 黄照强 ; 张学文 ; 童庆禧
刊名光谱学与光谱分析
2012
期号6页码:1611-1615
关键词热红外 光谱分析 光谱指数 SiO2含量 定量反演
中文摘要利用野外测量21种地表岩石的高光谱发射率数据,进行包络线去除和归一化处理后,运用逐步回归法进行波段选择,分析了SiO2含量与包络线去除后特征波段发射率的定量关系。在此基础上,通过比较12种SiO2光谱指数,建立了定量反演SiO2含量的最优模型。结果表明:构建的SiO2光谱指数能有效预测SiO2含量,其中基于11.18和12.36μm波段的归一化SiO2光谱指数(normalization silicon dioxide index,NSDI)的预测能力最高;与回归模型相比,光谱指数更简单、实用;研究结果在岩石种类鉴定及SiO2含量的高精度提取方面有重要应用价值。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2015-01-05
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.ceode.ac.cn/handle/183411/35973]  
专题遥感与数字地球研究所_中文期刊论文_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
杨杭,张立福,黄照强,等. 基于热红外发射光谱的岩石SiO_2定量反演模型研究[J]. 光谱学与光谱分析,2012(6):1611-1615.
APA 杨杭,张立福,黄照强,张学文,&童庆禧.(2012).基于热红外发射光谱的岩石SiO_2定量反演模型研究.光谱学与光谱分析(6),1611-1615.
MLA 杨杭,et al."基于热红外发射光谱的岩石SiO_2定量反演模型研究".光谱学与光谱分析 .6(2012):1611-1615.
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