| 原子光谱技术对固体薄层材料的直接分析研究 | |
| 郭永廉 ; 初真林 ; 任兵 ; 谷松海 ; 马玲 | |
| 1990-11 | |
| 获奖类别 | 中科院科技进步奖 |
| 获奖等级 | 三等奖 |
| 关键词 | 发射光谱法 |
| 中文摘要 | 该课题采用发射光谱技术, 针对薄层分析的特点研制三种型号连续扫描进样激发装置, 提出四种装备和应用薄膜光谱分析可能产生的误差进行研究并提出修正方法。结合国家攻关和高技术项目完成四个分课题, 为薄膜研制提供大量有价值的数据。该课题组选择了国内分析领域的前沿课题,选题准确,针对性强, 为光学薄膜 分析开创了一条新途径,较好解决了用原子发射光谱技术直接分析光学薄膜的难题,填补了国内空白,国内外用大型仪器分析光学薄膜相比,具有设备简单实用特点,于1989年10月通过长春分院鉴定。1990年11月获院科技进步三等奖。 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 成果 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/41646]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_成果 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭永廉,初真林,任兵,等. 原子光谱技术对固体薄层材料的直接分析研究. 中科院科技进步奖:三等奖. 1990. |
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