| 光电控制圆刻技术及0.2秒光电圆刻机 | |
| 邹自强 ; 张存厚 ; 相云歧 ; 李洪发 ; 周义明 ; 王名义 | |
| 1978-10 | |
| 获奖类别 | 全国、中科院重大成果奖 |
| 关键词 | 光电圆刻机 |
| 中文摘要 | 光电控制圆刻技术及0.2秒光电圆刻机是一种高精度的光学计量仪器，可以用来测量和检验光学、机械零件表面之间的角度，可以广泛地应用于仪器制造工业，机械制造工业中的计量部门，光学和装校车间及试验室中。其特点是?利用传统的机械方法进行分度粗定位，再用光电伺服控制对误差进行微量校正。既可进行间歇刻划，又可进行连续刻划；即可进行“光刻”。又可进行“刀刻”还便于对现有机械进行光电改装。该仪器达到了国际先进水平。 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 成果 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/41583]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出_成果 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邹自强,张存厚,相云歧,等. 光电控制圆刻技术及0.2秒光电圆刻机. 全国、中科院重大成果奖. 1978. |
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